Für Scan-Anwendungen wie AFM bietet SmarAct SMARFLEX-Scanner mit maximaler Scan-Geschwindigkeit und minimalem Scan-Fehler. Auch im Bereich der optischen Mikroskopie können mit SMARFLEX-Scannern Brennpunkte genau eingestellt, Spiegel sehr präzise gekippt oder optische Fasern eingekoppelt werden.
Die PLF-Produktreihe bietet hochpräzise SMARFLEX-Piezoscanner mit unterschiedlichen Scanrichtungen, welche leicht zu mehrachsigen Scansystemen kombiniert werden können.
PLF3232-x.60
Scan-Richtung: X
Abmessungen: 32 x 32 x 12 mm
PLF3232-xy.60
Scan-Richtung: X und Y
Abmessungen: 32 x 32 x 20 mm
PLF3232-z.60
Scan-Richtung: Z
Abmessungen: 32 x 32 x 15 mm
PLF5252-x.200
Scan-Richtung: X
Abmessungen: 52 x 52 x 15 mm
Application Examples
Optical Characterization
Entdecken Sie hochpräzise Positionierungslösungen für die Prüfung von Mikrodisplays, Sensoren und mehr mit der optischen Charakterisierung von SmarAct.
4D Scanning Transmission Electron Microscopy
Die 4D-Rastertransmissionselektronenmikroskopie (4D-STEM) ist ein leistungsstarkes Werkzeug zur Charakterisierung von Materialeigenschaften.
Fiber Alignment for Photonic Integrated Circuits
Entdecken Sie die ultraschnelle und hochpräzise Faserausrichtung für PICs auf Waferebene und verbessern Sie die Leistung in der Photonentechnologie.