SMARFLEX Nanopositionier-Scanner nutzen die Vorteile piezobetriebener mechanischer Biegungen zur Realisierung hochpräziser Positionieraufgaben bis zu mehreren 100 μm.
Der PLF3232-x.60 bietet einen Scanbereich von 60 μm in X-Richtung. Mit 30 g ist er sehr leicht und mit 32 x 32 x 12 mm auch recht kompakt.
| PDF-Download | Mechanical |
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| Mechanical | |
| Stiffness [N/μm] | 0,5 |
| Scan Range [µm] | > 60 |
| Max. Normal Force [N] | 5.0 |
| Dimensions [mm] | 32 x 32 x 12 |
| Weight [g] | 30 |
| Material | |
| Material | |
| Base Material | Titanium(-TI) / Aluminum base (-Al) |
| Open-loop | |
| Open-loop | |
| Open-Loop Resolution MCS2 [nm] | MCS2: <1 |
| Closed-Loop | |
| Closed-Loop | |
| Sensor Resolution MCS2 [nm] | MCS2: 1 (S) |
| Options | |
| Options | |
| Vacuum Options | HV (10⁻⁶ mbar) |
| Non-Magnetic Option | Yes (- NM) |
Ultra-fast, high-precision alignment of fibers to PICs right at the wafer-level.
